Logo LRS

Service Commun de

Microscopie Electronique de l’UFR de Chimie
carto NaX Pd
JEOL JEM 2011
Tension d’accélération : 200 kV
Résolution : 1.8 Å
Analyseur EDS (PGT)
Système de balayage du faisceau
(STEM)
Caméra CCD Gatan (Orius)
 Logiciel Gatan (Digital micrograph)
 microscope 2011
JEOL JEM 100CX
Tension d’accélération : 100 kV
Résolution : 3 Å
Caméra CCD Soft Imaging System (Keenview Pro)
Logiciel Soft Imaging System (ITEM)
microscope 100 cx
    Accueil
    Applications
    Equipements
    Contacts
    Accès
    Liens

Le Service de Microscopie fournit les grilles de cuivre pour la préparation des échantillons. Des coupes minces (70 nm) peuvent être réalisées sur un microtome Leica.

Le Service de Microscopie a également accès à la Microscopie Electronique à Balayage (MEB)