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Service Commun de

Microscopie Electronique de l’UFR de Chimie
carto NaX Pd
JEOL JEM 2011
Tension d’accélération : 200 kV
Résolution : 1.8 Å
Analyseur EDS (PGT)
Système de balayage du faisceau
(STEM)
Caméra CCD Gatan (Orius)
Logiciel Gatan (Digital micrograph)
microscope 2011
JEOL JEM 100CX
Tension d’accélération : 100 kV
Résolution : 3 Å
Caméra CCD Soft Imaging System (Keenview Pro)
Logiciel Soft Imaging System (ITEM)
microscope 100 cx
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Le Service de Microscopie fournit les grilles de cuivre pour la préparation des échantillons. Des coupes minces (70 nm) peuvent être réalisées sur un microtome Leica.

Le Service de Microscopie a également accès à la Microscopie Electronique à Balayage (MEB)