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Le Service Commun de Microscopie Électronique de l’UFR de Chimie met à la disposition des chercheurs, étudiants et industriels ses Microscopes Électronique à Transmission (MET) et la compétence de ses ingénieurs pour la caractérisation des matériaux aux échelles microscopique et nanométrique.
Il
est possible
d’étudier la morphologie,
la structure cristalline à l'échelle atomique ainsi que
la composition chimique locale à l'échelle
nanométrique. Grâce
à l’analyse par
spectroscopie en dispersion d’énergie (EDS), les
éléments présents dans
l’échantillon vont pouvoir être
déterminés. De
plus, à l’aide du microscope JEOL
2010,
la
haute résolution est désormais à notre
portée. En effet, la résolution locale de 1.8 angström de ce microscope permet procéder à une étude
cristallographique locale (plans réticulaires,
défauts cristallins…).
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